半导体激光器P-I-V测量系统

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半导体激光器P-I-V测量系统


光功率IV测试系统源表采用Keithley 2600A及2600B系列高精度源表(Keithley2601B、2602B、2611B、2612B、2635B、2636B),其电流源最小分辨率可达0.1fA~100fA,电压源最小分辨率可达100nV。
光功率测量采用美国NewPort光功率计进行测量。
软件可设置4种测量模式,分别为恒定电流输出、恒定电压输出、扫描电流输出、扫描电压输出。
光功率计可设置参数为响应波长、量程、数字及模拟滤波采样。
可设置采样精度及采样频率。
对于双通道源表及光功率计可同时进行双路光功率IV测量。
测试中可自动检测光功率计衰减器开关状态。
测试过程中自动绘制电流/压和光功率的对比曲线。
数据在测量中自动保存,并可在Excel中直接打开,也可以导入到Origin中进行进一步分析。






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