半导体器件参数测试

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半导体元器件I-V曲线测量系统

•I-T(恒定电压下电流随时间变化曲线)。
•V-T(恒定电流下电压随时间变化曲线)。
•I-V(电压扫描模式,电流-电压曲线,可自动循环多次扫描)。
•V-I(电流扫描模式,电压-电流曲线,可自动循环多次扫描)。
•可应用于除2450外的2400系列源表。
•采用RS232接口。
•数据在测量过程中自动保存。




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